使用（yòng）塗層測（cè）厚儀（yí）時，影響測量結果會（huì）有（yǒu）哪些因素？

　　

　　下麵welcome开心彩一起去（qù）看看使用時，影響塗層測厚儀測量結果的有哪（nǎ）些因素？

　　1、基體金屬磁性磁性法測厚受基體金屬磁性（xìng）變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的（de）變化可（kě）以認為時輕微的（de））。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應使用與試件金屬具有相（xiàng）同性質的鐵基片對儀器進行校準。

　　

　　2、基體金屬厚度（dù）每一種（zhǒng）儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大於這個（gè）厚度測量就不受基體厚度的影響。

　　

　　3、邊緣效應本儀器（qì）對試片表麵形狀的陡變（biàn）敏（mǐn）感。因此在靠近試片邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。

　　

　　4、曲率試件（jiàn）的曲率對測量（liàng）有影響，這種影響總是隨著（zhe）曲率半徑的減小明顯地增大（dà）。因此不應在試件（jiàn）超過允（yǔn）許的曲率半徑的彎曲麵上測量。

　　

　　5、表麵粗糙度基體金屬何覆蓋層的表麵粗糙度對測量有影響。粗（cū）糙度（dù）增大，影響增大。粗糙（cāo）表麵（miàn）會引（yǐn）起係統（tǒng）誤差何偶然誤差。每（měi）次測量時，在不同位置（zhì）上應增加測量的次數，以克（kè）服這種偶然（rán）誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在（zài）未屠（tú）夫的粗糙度相類似（sì）的基（jī）體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用沒有腐蝕（shí）性的溶液（yè）除（chú）去基體金屬覆蓋層，再校對儀器的零點。

　　

　　6、磁場周圍各種電氣設備所產生的強磁（cí）場，會嚴重地幹擾磁性法測量厚度的工作。

　　

　　7、附著物質本儀器對那些妨礙探頭（tóu）與覆蓋層表麵緊密（mì）接觸的（de）附著物（wù）質敏感。因（yīn）此必須清除附著物質，以（yǐ）保證（zhèng）探頭與覆蓋層表麵直接（jiē）接（jiē）觸。

　　

　　8、探頭壓力探頭置於試件上施加的壓力大小會影響測量的讀數。因此本（běn）儀器探頭用彈簧保持一個基本恒定的壓力。

　　

　　9、探頭的放置探（tàn）頭的放置方式對測量有影（yǐng）響。在測量中，應當使探頭與試樣表麵保持垂直。

　　

　　10、試（shì）件的（de）變形探頭使軟覆蓋層試（shì）件變形。因此在（zài）這些試件（jiàn）上（shàng）會測出不太可靠的數據。讀數次數（shù）通常儀器的每次讀數並不*相同。因此必須在每一測量麵積（jī）內取幾個讀數，覆蓋層（céng）厚度的局（jú）部（bù）差異，也要求（qiú）在任一給定的麵積內（nèi）進行多次測量。表麵粗糙（cāo）時（shí）更應如此。